地震地质

作者：郝海健, 魏占玉, 何宏林, 刘力强, 郭玲莉

单位：1)中国地震局地质研究所, 地震动力学国家重点实验室, 北京 100029;2)中国海洋大学, 海洋地球科学学院, 青岛 266100

关键词：形貌测量系统,断层面,精度分析,

基金：中国地震局地质研究所基本科研业务专项(IGCEA1519)资助

摘要： 获取高精度断层面形貌对微观断层面形貌与地震成核、 破裂扩展及终止的相关性研究具有重要意义。 为了提高断层面形貌的测量精度、 克服现有测量方法的不足, 我们研发了一套具有自主知识产权的μm级形貌测量系统。 经过测试, 该新型μm级形貌测量系统具有以下特征: 1)其平面定位(x轴与y轴方向)精度优于3.5μm, 垂向测量精度优于4.5μm, 水平分辨率可达0.62μm, 垂向分辨率为0.25μm; 2)该系统在垂向发射激光束, 可测量形貌面中大倾角的凹谷区域, 避免产生数据空白, 可获得完整的形貌测量结果, 具有较强的陡峭表面测量能力; 3)该系统具有较大的测量量程(30cm×30cm), 测量大尺度样品时, 可避免多次测量数据的配准拼接以及由此带来的误差。 运用该形貌测量系统, 可对实验断层面进行扫描并获得高分辨率的形貌数据, 能够满足μm级尺度上的形貌分析要求。

来源：2020年第4期

《地震地质》期刊编辑部

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